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Procurou por: LEICA MICROSYSTEMS


280  resultados encontrados

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SearchResultCount:"280"
Descrição: Microscópio, Estéreo, Binocular, Digital, Ivesta 3 (integrated camera) set
Código de Artigo: 630-3538
UOM: 1 * 1 SET
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil PH3; BF, DIC, POL, PH, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,18 mm
Código de Artigo: LEIM11506526
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 0,92 mm
Código de Artigo: LEIM11506277
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 4×/0,10 NA SL ; BF, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distância de trabalho: 18 mm
Código de Artigo: LEIM11506227
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,09 mm
Código de Artigo: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distância de trabalho: 0,37 mm
Código de Artigo: LEIM11506314
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: AirTeach, AirTeach software bundle for interactive microscopy class
Código de Artigo: 630-3433
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distância de trabalho: 12 mm
Código de Artigo: 630-3366
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distância de trabalho: 11,7 mm
Código de Artigo: 630-3368
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distância de trabalho: 1,15 mm
Código de Artigo: 630-3367
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distância de trabalho: 0,5 mm
Código de Artigo: 630-3370
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distância de trabalho: 0,5 mm
Código de Artigo: 630-3369
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distância de trabalho: 11,2 mm
Código de Artigo: LEIM11506083
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distância de trabalho: 0,31 mm
Código de Artigo: LEIM11506237
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: Accessory for camera, 0,55× HC C-mount for compound microscopes
Código de Artigo: 630-3191
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 0,92 mm
Código de Artigo: LEIM11506276
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


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