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Imagem do Produto-630-1329

Brackets, Suporte de montagem para suporte de microscópio, 32 mm

Descrição: Brackets, Suporte de montagem para suporte de microscópio, 32 mm
Código de Artigo: 630-1329
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: SCHOTT AG Lighting and imaging
Imagem do Produto-630-1327

Brackets, Suporte de montagem para suporte de microscópio, 25 mm

Descrição: Brackets, Suporte de montagem para suporte de microscópio, 25 mm
Código de Artigo: 630-1327
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: SCHOTT AG Lighting and imaging
Imagem do Produto-ECHLVIBE0002

Microscópio invertido de fluorescência, Plataforma de isolamento de vibração mecânica, Revolution

Descrição: Microscópio invertido de fluorescência, Plataforma de isolamento de vibração mecânica, Revolution
Código de Artigo: ECHLVIBE0002
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: DISCOVER ECHO
Imagem do Produto-LEIM11506184

N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distância de trabalho: 0,26 mm

Descrição: N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distância de trabalho: 0,26 mm
Código de Artigo: LEIM11506184
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506525

HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,18 mm

Descrição: HC PLAN FLUOTAR 100×/1,32 NA oil; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,18 mm
Código de Artigo: LEIM11506525
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506519

HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 1,2 mm

Descrição: HC PLAN FLUOTAR 20×/0,55 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 1,2 mm
Código de Artigo: LEIM11506519
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506277

HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 0,92 mm

Descrição: HI PLAN 20×/0,40 NA SL; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 0,92 mm
Código de Artigo: LEIM11506277
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506220

HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,09 mm

Descrição: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,09 mm
Código de Artigo: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506314

N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distância de trabalho: 0,37 mm

Descrição: N PLAN 40×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distância de trabalho: 0,37 mm
Código de Artigo: LEIM11506314
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-630-3366

HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distância de trabalho: 12 mm

Descrição: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distância de trabalho: 12 mm
Código de Artigo: 630-3366
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-630-3367

HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distância de trabalho: 1,15 mm

Descrição: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distância de trabalho: 1,15 mm
Código de Artigo: 630-3367
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-630-3370

N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distância de trabalho: 0,5 mm

Descrição: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distância de trabalho: 0,5 mm
Código de Artigo: 630-3370
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-630-3369

N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distância de trabalho: 0,5 mm

Descrição: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distância de trabalho: 0,5 mm
Código de Artigo: 630-3369
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506083

N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distância de trabalho: 11,2 mm

Descrição: N PLAN 2,5×/0,07 NA; BF, POL, PH, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distância de trabalho: 11,2 mm
Código de Artigo: LEIM11506083
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506237

HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distância de trabalho: 0,31 mm

Descrição: HI PLAN 63×/0,75 NA, M25 thread; BF, DF, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distância de trabalho: 0,31 mm
Código de Artigo: LEIM11506237
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
Imagem do Produto-LEIM11506097

N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distância de trabalho: 0,36 mm

Descrição: N PLAN 40×/0,65 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distância de trabalho: 0,36 mm
Código de Artigo: LEIM11506097
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS
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