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SearchResultCount:"280"
Descrição: Microscópio, Laser microdissection system, Leica®, LMD6
Código de Artigo: 630-3398
UOM: 1 * 1 SET
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: Microscópio, Digital, Leica® THUNDER imager assay package, Leica®
Código de Artigo: 630-3396
UOM: 1 * 1 SET
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN EPI 10×/0,25 NA; BF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 10×, Distância de trabalho: 12 mm
Código de Artigo: 630-3366
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN EPI 5×/0,12 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 5×, Distância de trabalho: 11,7 mm
Código de Artigo: 630-3368
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN EPI 20×/0,40 NA; BF, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 20×, Distância de trabalho: 1,15 mm
Código de Artigo: 630-3367
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN EPI 100×/0,85 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 100×, Distância de trabalho: 0,5 mm
Código de Artigo: 630-3370
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN EPI 50×/0,75 NA; BF, DIC, POL, DF, FLUO contrast; transmitted, incident light, 50×, Distância de trabalho: 0,5 mm
Código de Artigo: 630-3369
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HCX PL APO 100×/1,40 NA - 0,70 oil; BF, DIC, DF, FLUO contrast; transmitted light, 100×, Distância de trabalho: 0,09 mm
Código de Artigo: LEIM11506220
UOM: 1 * 1 UN
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN 63×/0,80 NA 0,7/D 0,26; BF, DIC, POL, FLUO contrast; transmitted light, 63×, Distância de trabalho: 0,26 mm
Código de Artigo: LEIM11506184
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: N PLAN 2,5×/0,07 NA POL -/- 11,2; BF, POL, FLUO contrast; transmitted, incident light, 2,5×, Distância de trabalho: 11,2 mm
Código de Artigo: LEIM11556036
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 10×/0,25 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distância de trabalho: 12 mm
Código de Artigo: LEIM11556061
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 10×/0,25 NA POL disp, stain; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 10×, Distância de trabalho: 12 mm
Código de Artigo: LEIM11556511
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 40×/0,65 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 40×, Distância de trabalho: 0,36 mm
Código de Artigo: LEIM11556065
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 4×/0,10 NA POL -/ 121; BF, POL, FLUO contrast; transmitted light, 4×, Distância de trabalho: 18 mm
Código de Artigo: LEIM11556060
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HI PLAN 20×/0,40 NA POL; BF, POL, DF, FLUO contrast; transmitted light, 20×, Distância de trabalho: 0,92 mm
Código de Artigo: LEIM11556071
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


Descrição: HC PLAN FL L 63×/0,70 NA CORR PH2; BF, DIC, POL, DF, PH, FLUO contrast; transmitted, LMD light, 63×, Distância de trabalho: 2,6 - 1,8 mm
Código de Artigo: LEIM11506217
UOM: 1 * 1 unid.
Fornecedor: LEICA MICROSYSTEMS


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